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[16p-P11-4] 平板試料における偏光の多重散乱に対する測定条件の影響:モンテカルロシミュレーション
キーワード:多重散乱、偏光特性、モンテカルロ・シミュレーション
平板試料に細い平行光を入射し、後方散乱の偏光状態の分布を計測することにより、試料の多重散乱の偏光特性を解析することが可能である。しかし、実際の測定では、照射光の形状・サイズ、平板の厚さ、試料前後のガラス板の存在などの実験条件の影響を受ける。多重散乱の偏光特性に対するこれらの影響をモンテカルロシミュレーションにより調べた。