2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.4 III-V族窒化物結晶

[17a-503-1~13] 15.4 III-V族窒化物結晶

2017年3月17日(金) 09:00 〜 12:30 503 (503)

岡田 成仁(山口大)、村上 尚(農工大)

11:00 〜 11:15

[17a-503-8] HVPE法による高純度GaN層の成長

藤倉 序章1、堀切 文正1 (1.サイオクス)

キーワード:GaN、HVPE、不純物濃度

石英フリーのHVPE装置により、高純度なGaNエピタキシャル層の成長に成功した。高純度GaN層中の不純物(Si, O, C, H, Fe, Cr, Ni, Ti等)濃度は、いずれも検出下限以下であった。ドーピング無しの場合には高純度GaN層は電気的には絶縁性であり、Siドーピングにより1x1015/cm3までの電子濃度制御が可能であった。