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[17p-211-1] 室温放置によるSiNx/c-Si 界面特性の改善
キーワード:少数キャリア寿命、室温
Cat-CVDでSiNx膜を堆積した結晶Siを室温放置することにより、界面特性が改善する現象を発見した。堆積直後は280 µs程度だった少数キャリア寿命が、日数が経過するごとに増加した。真空保管、大気雰囲気保管に関わらず、光照射下で保管した試料において、より顕著な少数キャリア寿命の増加が確認された。界面特性の改善は、室温下でSiNxから供給される水素による欠陥終端がなされ、さらにそれが光照射により促進されている可能性が考えられる。