15:45 〜 16:00 [18p-224B-11] 走査型非線形誘電率顕微鏡と静電気力顕微鏡を用いたSiO2上剥離WSe2におけるキャリア分布観察 〇山末 耕平1、加藤 俊顕2、金子 俊郎2、長 康雄1 (1.東北大通研、2.東北大院工)