16:45 〜 17:00 [18p-431B-11] 大気暴露したGaN半導体フォトカソードの加熱処理に伴う表面状態の光電子分光観測 〇(D)佐藤 大樹1、西谷 智博2、本田 善央2、天野 浩2 (1.名大院工、2.名大IMaSS)