Louise BENINCASA

発表者・著者、共著者

2018年9月20日(木) 09:30 〜 11:30 PA (イベントホール)

一般セッション(ポスター講演)
| 13 半導体
| 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[20a-PA4-1~12] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

09:30 〜 11:30

▲ [20a-PA4-2] Investigation of defect levels in undoped-BaSi₂ epitaxial films by PL measurement

〇Louise BENINCASA^1,2、Hirofumi Hoshida³、Tianguo Deng¹、Takuma Sato^1,2、Kaoru Toko¹、Yoshikazu Terai³、Takashi Suemasu¹ (1.Univ. Tsukuba、2.Univ. Grenoble Alpes、3.Kyushu Inst. Tech.)