13:30 〜 13:45 △ [20p-136-1] GaAs//ITO/Si接合におけるGaAs薄層//ITO界面の硬X線電子分光評価 〇(M2)原 智也1、梁 剣波1、荒木 健次2、神岡 武文2、ソダーバンル ハッサネット3、渡辺 健太郎3、杉山 正和3、重川 直輝1 (1.大阪市大工、2.豊田工大、3.東大工)