[18a-143-1~9] 6.6 プローブ顕微鏡

[18a-143-7] 走査型熱振動顕微鏡法を用いた高分子膜下のポリスチレン粒子深さ分布

〇戸野 博史¹、木村 邦子¹、小林 圭¹、山田 啓文¹ (1.京大工)

キーワード：表面下