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[18p-PA5-15] 2端子4端子同時測定によるα-(BEDT-TTF)2I3相転移型トランジスタの動作解析
キーワード:強相関材料、相転移型トランジスタ、4端子測定
電界効果によるキャリア注入によって強相関材料の電子相を制御する相転移型トランジスタにおいて、巨大応答や高速動作が期待されている。そこで、135 Kで金属-絶縁体転移するa-(BEDT-TTF)2I3単結晶を用いてFETを作製し、2端子および4端子FET測定を同時に行った。4端子測定では相転移型トランジスタの特性が明確に観られる一方、2端子測定では、ゲート電圧変調の見え方が極端に悪い結果となった。従って、相転移型トランジスタの動作検証においては4端子測定が必須であることが確かめられた。