[19a-131-1~11] 15.7 Crystal characterization, impurities and crystal defects

[19a-131-1] Development of the adaptive mapping and its application to micro-beam X-ray diffraction

〇Kentaro Kutsukake¹, Kenichi Inoue¹, Takashi Segi², Takefumi Kamioka³, Takuo Sasaki⁴, Seiji Fujikawa⁴, Masamitu Takahashi⁴ (1.Nagoya Univ., 2.Kobelco Research Institute, Inc., 3.Toyota Technol. Inst., 4.QST)

Keywords:data science, mapping, synchrotron

適応的マッピングは、測定中にそれまでに取得した値を解析し、測定条件を逐次に
決定しながら行なうマッピング方法である。2 次元の空間マッピングに適用した場合、測定物理
量の空間分布形状に合わせた測定位置が得られ、マッピングの測定点数を大幅に削減することが
可能である。本研究では、適応的マッピングを放射光によるµビームX 線回折マッピングに実装
したので報告する。