[19a-131-1~11] 15.7 結晶評価，不純物・結晶欠陥

[19a-131-1] データ科学的手法を用いた適応的マッピングのμ ビームX 線回折への実装

〇沓掛 健太朗¹、井上 憲一¹、世木 隆²、神岡 武文³、佐々木 拓生⁴、藤川 誠司⁴、高橋 正光⁴ (1.名大未来機構、2.コベルコ科研、3.豊田工大、4.量研)

キーワード：データ科学、マッピング、放射光

適応的マッピングは、測定中にそれまでに取得した値を解析し、測定条件を逐次に
決定しながら行なうマッピング方法である。2 次元の空間マッピングに適用した場合、測定物理
量の空間分布形状に合わせた測定位置が得られ、マッピングの測定点数を大幅に削減することが
可能である。本研究では、適応的マッピングを放射光によるµビームX 線回折マッピングに実装
したので報告する。