[講演奨励賞受賞記念講演] イメージング質量分析法を用いた有機EL素子の劣化反応機構の解明

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12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.4 有機EL・トランジスタ

[19p-145-1~15] 12.4 有機EL・トランジスタ

2018年9月19日(水) 13:45 〜 18:00 145 (レセプションホール)

坂上知(ソニーセミコンダクタソリューションズ)、大久哲(山形大)、栗原一徳(産総研)

16:30 〜 16:45

〇重松沙樹¹、宮里朗夫²、宮林恵子³、酒井平祐¹、村田英幸¹ (1.北陸先端大先端科学技術、2.北陸先端大ナノセンター、3.静岡大院総合科学技術)

キーワード：有機EL素子、フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴イメージング質量分析、劣化解析