The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018

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Symposium (Oral)

Symposium » Recent Progresses and Developments of Si Integrated Circuit Technologies with 3D Integrations

[19p-432-1~8] Recent Progresses and Developments of Si Integrated Circuit Technologies with 3D Integrations

Wed. Sep 19, 2018 1:45 PM - 5:30 PM 432 (432)

Shin-Ichiro Kuroki(Hiroshima Univ.), Makoto Nakamura(Fujitsu Labs)

2:45 PM - 3:15 PM

[19p-432-3] Evolutionary process for Stacked CMOS Image Sensor and Advanced Technologies

Kyohei Mizuta1, Hidenobu Tsugawa1, Ryoichi Nakamura1, Tomohiro Takahashi1, Masaki Sakakibara1, Susumu Ohki1, Keiji Tatani1 (1.Sony Semiconductor Solutions Corporation)

Keywords:Back Illuminated CMOS Image Sensor, Stacked CMOS Image Sensor, CuCu hybrid bonding

CMOSイメージセンサ(CIS)は、スマートフォン等のカメラに使用される身近なデバイスである。CISは裏面照射型に次いで、3D化(積層化)により、カメラの機能・性能は飛躍的に高まった。近年実用化されているPixel/DRAM/Logicの3層構造や、Cu Padを直接接続するCu-Cu接続などの積層技術について述べる。