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一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[20p-222-1~23] 6.2 カーボン系薄膜

2018年9月20日(木) 13:15 〜 19:30 222 (222)

青野祐美(防衛大)、針谷達(豊橋技科大)、寺地徳之(物材機構)、加藤有香子(産総研)

13:45 〜 14:00

△ [20p-222-3] シンクロトロンX線トポグラフィーによるCVDダイヤモンドホモエピ膜の欠陥の観察

〇桝谷聡士¹、嘉数誠¹ (1.佐賀大院工)

キーワード：X線トポグラフィー、転位