2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[21a-135-1~10] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2018年9月21日(金) 09:00 〜 11:45 135 (135)

森 伸也(阪大)

09:45 〜 10:00

[21a-135-4] Fowler-Nordheim電流がMOS容量型センサに与える影響

祖父江 琢哉1、藏本 駿介1、萩原 一樹1、田中 貴久1、内田 建1 (1.慶應大理工)

キーワード:水素センサ、MOSキャパシタ、パラジウム