2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[21a-233-1~12] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2018年9月21日(金) 09:00 〜 12:00 233 (233)

野口 隆(琉球大)、佐道 泰造(九大)

09:15 〜 09:30

[21a-233-2] SiH2Cl2-SiHx-H2系によるシリコン薄膜成長速度増大方法

室井 光子1、山田 彩未1、羽深 等1 (1.横国大院工)

キーワード:Si エピ成長、成長速度、反応機構

省電力化に伴い、太陽電池等に使用されているシリコン(Si)エピタキシャル薄膜の需要が増え、 その生産量を増やすために、製膜速度を上げることが望まれている。その際には、原料であるジクロロシラン(SiH2Cl2, DCS)濃度を増大させると、ラングミュア型表面反応機構が原因となって製膜速度が飽和するという課題がある。その解決のため本研究では、主原料であるDCSガスにSiHx ガスを混合させることにより製膜速度が増大することを検 討する。