[21p-133-1~12] 16.3 シリコン系太陽電池

△ [21p-133-11] 錫薄膜センサによるUV+DH 複合試験中の太陽電池内酢酸検出

〇濱岡 遼¹、浅野 正太¹、岩見 健太郎¹、原 由希子²、山本 千津子²、増田 淳²、梅田 倫弘¹ (1.東京農工大工、2.産総研)

キーワード：太陽電池、酢酸、錫薄膜センサ

太陽電池(PV)モジュール内に発生する酢酸は、発電性能低下の原因となるため、酢酸の動態の評価が求められている。近年、屋外試験環境を模擬したPVモジュールの劣化加速試験手法として、紫外(UV)照射試験の後にDamp-heat (DH)を行う複合加速試験が提案されている。この試験中のPVモジュール内部の酢酸動態を詳細かつ経時的に評価する方法として、我々は錫薄膜センサを提案している。本報告では、PVモジュールに対して0~1500時間のUV試験(75 ℃, 30% RH, 85 W/m²)と7400時間のDH試験(85 ℃, 85% RH)の複合試験を行った。その結果、UV試験の時間が長くなるほど、酢酸の発生が加速することを確認した。