2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[21p-232-1~18] 6.2 カーボン系薄膜

2018年9月21日(金) 13:15 〜 18:00 232 (232)

徳田 規夫(金沢大)、鈴木 真理子(コーンズテクノロジー)、竹内 大輔(産総研)、宮崎 久生(東芝)

15:15 〜 15:30

[21p-232-9] Al2O3/SiO2界面導入による高ドレイン電流ノーマリオフ2DHGダイヤモンドMOSFET

〇(M1)矢部 太一1、大井 信敬1、堀川 清貴1、大久保 智1、Jorge J. Buendia1、蔭浦 泰資1、河野 省三1、平岩 篤1、川原田 洋1,2 (1.早稲田大学、2.早大材研)

キーワード:ダイヤモンド、MOSFET、ノーマリオフ

我々は2DHGをチャネルとして利用したダイヤモンドMOSFETを作製し、優れた高耐圧特性と幅広い温度領域での安定動作を報告してきた。一般にダイヤモンドMOSFETはノーマリオン動作を示すが、パワーデバイスはノーマリオフ動作が望まれる。本研究では、チャネル上のC-Hダイヤモンド/Al2O3界面にSiO2薄膜を形成し、2DHGの誘起を抑制することでノーマリオフダイヤモンドMOSFETの動作に成功した。