[21p-235-1~12] 7.1 X線技術

[21p-235-4] データベースを活用した多成分試料のX線回折の高速客観分析

〇石井 真史¹、小澤 哲也²、紺谷 貴之² (1.物材機構、2.リガク)

キーワード：Ｘ線回折、非負最小二乗、セメント

X線回折による結晶構造解析は、試料が未知の多成分で構成される場合、解析が極端に難しくなる。通常、ある結晶構造を選んで回折パターンを計算し、調整可能なパラメータを最適化するが、多成分の場合はパラメータが増え、満足できる解に達するまでに長時間かかり、得られた解の一意性の検証は容易ではない。本研究では、多成分試料のXRDパターンを、データベースを活用して高速かつ客観的に分析する方法を提案する。