10:45 〜 11:00 △ [18a-C102-7] ミストCVD法によるYSZ基板上のSnO2薄膜の作製と薄膜構造評価 〇丹羽 泰之1、菅 大介1、小金澤 智之2、島川 祐一1 (1.京大化研、2.JASRI)