13:30 〜 15:30 [17p-P8-20] 1Xnm 世代のNAND 型フラッシュメモリにおけるRTN によるデータ保持不良/回復現象への影響 〇溝口 恭史1、高橋 知紀1、竹内 健1 (1.中大理工)
13:30 〜 15:30 [17p-P8-22] 3D-NAND 型フラッシュメモリにおける横方向への電荷移動抑制による高信頼化技術 〇溝口 恭史1、小滝 翔平1、出口 慶明1、竹内 健1 (1.中大理工)