16:00 〜 18:00 [19p-P11-23] In–W–Zn–Oチャネルによる薄膜トランジスタの高移動度化とその信頼性 〇(DC)是友 大地1、橋本 優太1、濱田 秀平1、宮永 美紀2、古田 守1 (1.高知工大、2.住友電工)