[17a-F202-1~11] 7.4 量子ビーム界面構造計測

△ [17a-F202-5] Pt L端時間分解X線磁気円二色性測定でみるFePt薄膜の磁化ダイナミクス

〇山本 航平^1,2、久保田 雄也³、平田 靖透^1,2、田久保 耕¹、上村 洋平⁴、田中 健太⁵、西村 渉⁵、大河内 拓雄³、鈴木 基寛³、片山 哲夫³、富樫 格³、玉作 賢治⁶、矢橋 牧名³、田中 義人⁵、関 剛斎⁷、高梨 弘毅⁷、和達 大樹^1,2 (1.東大物性研、2.東大理、3.JASRI、4.分子研、5.兵県大理、6.理研、7.東北大金研)

キーワード：XFEL、時間分解XMCD

光誘起過渡状態の元素ごとの情報は磁化の光制御の研究上重要である。時間分解X線磁気円二色性測定(XMCD)は、そうした情報を得る上で強力なプローブである。Ptの磁性を強く反映するL端は硬X線領域にあり、また期待されるタイムスケールがピコ秒である点からPt L端での時間分解XMCD実験をSACLA BL3で行った。サンプルはFePtであり、消磁、回復していく時間スケールを得ることに成功した。Fe端での測定などと比較して報告したい。