2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.4 量子ビーム界面構造計測

[17a-F202-1~11] 7.4 量子ビーム界面構造計測

2018年3月17日(土) 09:00 〜 12:15 F202 (61-202)

羽田 真毅 (岡山大)、高橋 正光(量研機構)、鈴木 秀士(名大)

10:15 〜 10:30

[17a-F202-6] 時間分解X線吸収分光で観測したEuNi2(Si0.21Ge0.79)2の光誘起価数転移

横山 優一1,2、川上 晃希3、平田 靖透1,2、山本 航平1,2、田久保 耕1、阿部 晃大3、光田 暁弘4、和田 裕文4、魚住 孝幸3、三村 功次郎3、〇和達 大樹1,2 (1.東大物性研、2.東大理、3.阪府大院工、4.九大院理)

キーワード:時間分解、X線吸収分光、4f電子

4f 電子系では、価数が時間的・空間的に変動する価数揺動の性質が特徴的であり、温度・圧力・
磁場などの外的刺激によって価数転移が起こる。我々は、SPring-8 のBL07LSUの時間分解軟X 線吸収分光装置を用い、EuNi2(Si0.21Ge0.79)2の光誘起の電子状態変化を時間分解測定によって観測した。800 nm のチタンサファイヤレーザーをポンプ光、放射光X 線をプローブ光とするポンププローブ法による測定により、光による価数転移が観測された。