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[17a-F202-6] 時間分解X線吸収分光で観測したEuNi2(Si0.21Ge0.79)2の光誘起価数転移
キーワード:時間分解、X線吸収分光、4f電子
4f 電子系では、価数が時間的・空間的に変動する価数揺動の性質が特徴的であり、温度・圧力・
磁場などの外的刺激によって価数転移が起こる。我々は、SPring-8 のBL07LSUの時間分解軟X 線吸収分光装置を用い、EuNi2(Si0.21Ge0.79)2の光誘起の電子状態変化を時間分解測定によって観測した。800 nm のチタンサファイヤレーザーをポンプ光、放射光X 線をプローブ光とするポンププローブ法による測定により、光による価数転移が観測された。
磁場などの外的刺激によって価数転移が起こる。我々は、SPring-8 のBL07LSUの時間分解軟X 線吸収分光装置を用い、EuNi2(Si0.21Ge0.79)2の光誘起の電子状態変化を時間分解測定によって観測した。800 nm のチタンサファイヤレーザーをポンプ光、放射光X 線をプローブ光とするポンププローブ法による測定により、光による価数転移が観測された。