2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[17p-C201-1~19] 8.5 プラズマ現象・新応用・融合分野

2018年3月17日(土) 13:15 〜 18:15 C201 (52-201)

小田 昭紀(千葉工大)、竹内 希(東工大)

13:30 〜 13:45

[17p-C201-2] 低エネルギーケイ素分子イオンビームの生成と酸化ケイ素成膜への応用

吉村 智1、杉本 敏司1、竹内 孝江2、村井 健介3、木内 正人1,3 (1.阪大工、2.奈良女大、3.産総研)

キーワード:酸化ケイ素、ヘキサメチルジシロキサン、オルトケイ酸テトラエチル

シリコンを含有する材料の成膜においては、通常はシランを主原料として用いることが多い。シランは自己発火性をもつ危険性の高いガスであるため、可燃性はあるが比較的安全に扱うことのできる、ヘキサメチルジシロキサン(HMDS)やオルトケイ酸テトラエチル(TEOS)を原料として用いた酸化ケイ素膜の成膜実験が行われている。本研究では、これらを原料として用いて、低エネルギーイオンビームを生成し、これを基板に照射することにより酸化ケイ素の成膜を試みた。HMDSから生成したSiO+イオンビーム、TEOSから生成したSiO3H3+イオンビームをそれぞれシリコン基板に照射し、成膜実験を行った。分析の結果、いずれの場合も酸化ケイ素膜が生成されていることを確認した。