The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.4 III-V-group nitride crystals

[17p-E202-1~19] 15.4 III-V-group nitride crystals

Sat. Mar 17, 2018 1:15 PM - 6:30 PM E202 (57-202)

Motoaki Iwaya(Meijo Univ.), Yoshio Honda(Nagoya Univ.), Yoshiki Saito(TS Opto)

2:45 PM - 3:00 PM

[17p-E202-7] Improvement of emission characteristics in green LEDs using sputtered AlN buffer layer

〇(B)Seiji Ishimoto1, Dong-Pyo Han1, Shohei Matsuo1, Kengo Yamamoto1, Satoshi Kamiyama1, Tetsuya Takeuchi1, Motoaki Iwaya1, Isamu Akasaki1,2 (1.Meijo Univ., 2.Akasaki Research Center , Nagoya Univ.)

Keywords:LED, long wavelength, AlN buffer layer

GaN系長波長LEDの発光効率は活性層内のピエゾ電界により大きく低下する。本研究ではスパッタリングAlNを用いたサンプルは基板の反りが小さいということに着目し、ピエゾ電界の低減に効果があるのではないかと考えた。スパッタリングAlNを低温GaNバッファ層の代わりに用いることにより、緑色LEDのPL強度が約1.6倍に増加した。X線2θ/ω測定により、成長膜の熱歪が抑制されていることが確認された。