2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

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[17p-P12-1~27] 13.7 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

2018年3月17日(土) 16:00 〜 18:00 P12 (ベルサール高田馬場)

16:00 〜 18:00

[17p-P12-1] 耐圧10 kV超GaN-PSJ FETと8 kV超GaN-PSJ Schottky Barrier Diode

八木 修一1、斉藤 武尊1、中村 文彦1、神山 祐輔1、河合 弘治1、田中 敦之2、本田 善央2、天野 浩2 (1.パウデック、2.名大未来材料・システム研)

キーワード:窒化ガリウム トランジスタ ダイオード 耐圧

これまで分極超接合(PSJ)方式を用いたGaNトランジスタとDiodeの実証を行い、ダイナミック電流コラプスが発生することなくスイッチング動作できる事を確認した。今回、破壊耐圧が10 kVを超えるGaN-PSJ FETと8kVを超えるPSJ Schottky diodeを作製することに成功した。