The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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6 Thin Films and Surfaces » 6.6 Probe Microscopy

[17p-P5-1~14] 6.6 Probe Microscopy

Sat. Mar 17, 2018 1:30 PM - 3:30 PM P5 (P)

1:30 PM - 3:30 PM

[17p-P5-8] Atom-resolved FM-AFM imaging with quartz force sensor in humidified air

〇(PC)Hiroaki Ooe1, Toyoko Arai1 (1.Kanazawa Univ.)

Keywords:FM-AFM, In air, Atomic resolution

大気環境でFM-AFMを用いて試料表面の原子分解能観察を行うためには、試料表面に吸着した水分子の制御および、0.1nm以下の微小振幅での計測が重要になる。
本研究では、高湿度環境・微小振幅での表面観察を実現するために、水晶振動子力センサーおよび装置全体に防湿処理を施したFM-AFMの開発を進めている。
これまでに加湿大気中でのKBr(100)表面の原子分解能観察像の取得に成功している。
本発表では、開発中のFM-AFMを用いて、KBr(100)表面を試料とした計測結果から、現在の装置開発状況や、今後の改良方法について報告する。