[18p-D101-1~17] 16.3 シリコン系太陽電池

[18p-D101-17] セルレベルの電圧誘起劣化試験におけるチャンバー内の真空引きの影響

〇山口 世力¹、大平 圭介¹ (1.北陸先端大)

キーワード：太陽電池モジュール、信頼性、電圧誘起劣化

本研究では，セルレベルの電圧誘起劣化試験における真空引きの影響を調査した．ガラス／EVA／セルという未ラミネートの積層構造に対して試験を行った際，真空引きを行うことによって劣化が大きく加速することがわかった．この効果の原因は，真空引きによって積層構造の界面の密着性が向上したためと推測される．