2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.5 デバイス/集積化技術

[18p-G203-1~18] 13.5 デバイス/集積化技術

2018年3月18日(日) 13:15 〜 18:00 G203 (63-203)

齋藤 真澄(東芝)、宮地 幸祐(信州大)

16:00 〜 16:15

[18p-G203-11] CBRAMの動作不安定性に関するTEMその場観察

武藤 恵1、酒井 慎弥1、福地 厚1、有田 正志1、高橋 庸夫1 (1.北大院情報)

キーワード:抵抗変化メモリ、in-situ TEM、CBRAM

複数回動作させた後の様子を再現するため、両電極をCuにしたCBRAM試料を作製し、不安定動作時の構造変化についてTEMその場観察を行った。その結果、不安定な動作を示す際には、両極からCuが伸びるといったような電気化学反応だけでは説明ができない現象が観察できた。