2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

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[19p-B303-1~18] 11.4 アナログ応用および関連技術

2018年3月19日(月) 13:15 〜 18:15 B303 (53-303)

浮辺 雅宏(産総研)、宮戸 祐治(阪大)、川上 彰(情通機構)

16:15 〜 16:30

[19p-B303-12] 超伝導量子ビットによる低照射電子顕微鏡改善の可能性

奥田 優樹1、高山 幸宏1、〇岡本 洋1 (1.秋田県大シ)

キーワード:磁気量子ビット、クライオ電子顕微鏡、ハイゼンベルク限界

荷電粒子光学、中でも電子顕微鏡法は超伝導量子ビットの使用により改善が見込まれる分野である。特に、生体試料のクライオ電子顕微鏡法では、サンプルの照射損傷により使える電子の数が厳しく制限され、量子テクノロジーによる改善が期待される。具体的には、超伝導量子ビットの周囲の電磁ポテンシャルは、量子力学的重ね合わせになり得るため、そこを通過する荷電粒子とは奇妙な相互作用をすることが期待される。
本講演では、前記の相互作用がどのように電子顕微鏡の改善に使えるのか、改善の度合いはどれほどか、想定される実験的挑戦は何か、について述べる。また、秋田県立大学における予備実験の準備状況についても簡単に触れる。(参考文献については英文概要を御参照のこと。)