2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[19p-C303-1~19] 3.8 光計測技術・機器

2018年3月19日(月) 13:45 〜 19:00 C303 (52-303)

金 蓮花(山梨大)、早崎 芳夫(宇都宮大)、美濃島 薫(電通大)

15:30 〜 15:45

[19p-C303-7] 共焦点顕微ラマン分光によるサファイア研削面品位評価

小貫 哲平1、吴 柯1、菅野 直1、尾嶌 裕隆1、清水 淳1、周 立波1 (1.茨城大)

キーワード:加工変質層、潜傷、ラマン散乱分光

共焦点顕微ラマン散乱分光によるひずみ場断層イメージング技術をサファイア研削・研磨面の加工変質層の定性分析・定量評価を検討した。超精密研削によって大別して4種の加工面(脆性加工、延性加工、不完全仕上げ面、完全仕上げ面)を作製して、顕微ラマン分光の測定スポット掃引によって深さ20mm (屈折率補正をすると35mm) までの断層イメージング計測を行った。代表的なラマンピーク(378(Eg),417(A1g),750(Eg) cm-1)についてピークシフトとピーク幅のプロファイルを分析した結果を報告する。