2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[19p-F202-1~16] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2018年3月19日(月) 13:45 〜 18:15 F202 (61-202)

末益 崇(筑波大)、山口 憲司(量研機構)、原 康祐(山梨大)

17:00 〜 17:15

[19p-F202-12] シンクロトロン光照射によるRu/SiOx界面でのRuシリサイドの形成

市川 修平1、古川 大希2、佐藤 和久1,2、今村 真幸3、高橋 和敏3、保田 英洋1,2 (1.阪大 電顕センター、2.阪大院工、3.佐賀大)

キーワード:シリサイド半導体、シンクロトロン光