The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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21 Joint Session K » 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

[19p-P11-1~31] 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

Mon. Mar 19, 2018 4:00 PM - 6:00 PM P11 (P)

4:00 PM - 6:00 PM

[19p-P11-8] Growth of α-Ga2O3 thin films by O3 assisted mist CVD

Takayuki Uchida1, Kentaro Kaneko1, Shizuo Fujita1 (1.Graduate School of Eng., Kyoto Univ.)

Keywords:Ga2O3

これまでミストCVD法により成長したα-Ga2O3は膜中にはドナーとして働く可能性のあるSiが~ 1018 atom/cm-3、Clが~1016 atom/cm-3程度存在しているものの、これらは活性化しておらず抵抗値が> 1010 Ωcmを示すことが分かっている。本研究ではキャリアガスにO3を用いることでSiが活性化し、意図的なドーピング無しで導電性α-Ga2O3薄膜が得られた。得られた薄膜の電気特性を核として発表を行う。