The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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Poster presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.3 Oxide electronics

[19p-P5-1~39] 6.3 Oxide electronics

Mon. Mar 19, 2018 1:30 PM - 3:30 PM P5 (P)

1:30 PM - 3:30 PM

[19p-P5-1] High-rate sputter deposition of WO3 films by using a Facing Target type sputtering system

Yoji Yasuda1, Yoichi Hoshi1 (1.Tokyo Polytechnic Univ.)

Keywords:tungsten trioxide, gasochromic

WO3膜はガスクロミック特性、エレクトロクロミック特性を示す機能性材料として注目され研究が進められている。我々はWO3膜を金属タングステン(W)ターゲットを酸素―Ar混合ガス中でスパッタする反応性スパッタ法で作製することを検討している。その結果、通常のマグネトロンスパッタ装置を用いた場合には、100 nm/min以上の堆積速度を得ることが困難で、スパッタ中にターゲットから放出される酸素負イオンの基板衝撃により特性が良好な膜を得ることが難しい。そこで、本研究では酸素負イオンによる基板衝撃が起こらない対向ターゲット式スパッタ法を利用して、100 nm/min以上の高堆積速度で良好なガスクロミック特性を持つWO3膜を堆積する方法を検討したので報告する。