2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[19p-P5-1~39] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2018年3月19日(月) 13:30 〜 15:30 P5 (ベルサール高田馬場)

13:30 〜 15:30

[19p-P5-5] TiN(111) 配向基板の導入による相転移VO2薄膜の配向成長と粒界拡散効果

青戸 智寛1、沖村 邦雄1 (1.東海大院工)

キーワード:二酸化バナジウム、窒化チタン

二酸化バナジウム (VO2) は, 68℃付近において絶縁体-金属相転移 (Insulator-Metal Transition: IMT) を起こす. また, この相転移が電圧印加によるジュール熱による蓄積によっても発現する. 我々は, 今までに低電圧スイッチングを可能とする導電性TiN層上へのVO2薄膜の多結晶成長について報告した. 本研究では, TiN(111) 配向基板を導入することでVO2のb軸配向成長に成功した一方で, 成膜時の基板加熱によるTi原子の粒界拡散が促進された.