2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

2 放射線 » 2.2 検出器開発

[20a-A304-1~12] 2.2 検出器開発

2018年3月20日(火) 09:00 〜 12:00 A304 (54-304)

藤原 健(産総研)

09:45 〜 10:00

[20a-A304-4] 荷電粒子誘起発光分析によるα-およびβ-SiAlON:Euシンチレータの評価

加田 渉1、Sudić Ivan2、Skukan Natko2、須崎 純一3、山田 鈴弥3、関根 卓洋1、三浦 健太1、佐藤 隆博4、江夏 昌志5、山田 尚人4、神谷 富裕1、Jakšić Milko2、花泉 修1 (1.群馬大学理工学府、2.RBI、3.(株)デンカ、4.量研機構高崎、5.(株)ビームオペレーション)

キーワード:荷電粒子誘起発光、SiAlON、高温耐性

本研究では、高温苛酷環境下で動作するシンチレータの開発を目標に、高温で動作するSiAlON蛍光体について、集束イオンビームをプローブとした荷電粒子誘起発光(IBIL)計測を行った。荷電粒子照射体系に温度制御機能を追加し、2 MeV H+集束ビーム照射下におけるSiAlONシンチレータからのIBILを温度ごとに計測した。β-SiAlON (MW540H)試料から得られたIBIL強度は、773K程度においても室温での発光強度の半分程度を維持したまま計測の継続が可能であった。本結果から、SiAlONシンチレータの高温環境下での動作を確認した。