[20a-B403-1~10] 7.5 イオンビーム一般

[20a-B403-8] ミスト法を用いたナトリウム付加によるPEG表面の2次イオン検出感度の向上

〇松田 大輝¹、瀬木 利夫²、青木 学聡³、松尾 二郎² (1.京大工、2.京大院工、3.京大メディアセンター)

キーワード：SIMS、カチオン化、クラスター