11:45 〜 12:00 △ [18a-E302-11] 表面電位の連続測定を可能にする回転型Kelvin Probe装置の開発 〇(B)大原 正裕1、渡辺 達也2、田中 有弥2,3、石井 久夫2,3,4 (1.千葉大工、2.千葉大院融合、3.千葉大先進、4.千葉大MCRC)