出展者情報
[Ba-7] (株)小坂研究所
■微細形状測定機 ET200A-3D
■膜厚段差測定 再限性 0.3nm以内を実現した新製品
■二次元、三次元、表面粗さ解析及び段差測定に最適
■膜厚段差測定 再限性 0.3nm以内を実現した新製品
■二次元、三次元、表面粗さ解析及び段差測定に最適
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住所
101-0021
東京都千代田区外神田6-13-10 プロステック秋葉原3階 -
Tel
03-5812-2011
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