[18a-E302-1~12] 12.2 評価・基礎物性

[18a-E302-1] 周波数変調AFMによるグラファイト電極上に調製した異なる深さの穴近傍における界面イオン液体の構造化の解析

〇難波 亮太郎¹、米川 昌輝¹、薛 盛锴²、田邉 一郎¹、笹原 亮²、大西 洋²、福井 賢一¹ (1.阪大院基礎工、2.神戸大院理)

キーワード：周波数変調AFM、イオン液体、グラファイト

イオン液体は難燃性・化学的安定性等の特徴を有し、二次電池等への応用が期待されているが、固体電極との界面で構造化し、そのことが時にデバイス効率低下の原因となる。電極の表面構造と界面イオン液体の構造化の相関の評価のため、熱処理によりグラファイトに深さや大きさを制御した穴を形成し、そのエッジ近傍でのイオン液体BMIM-TFSIの構造化の様子と穴の深さとの相関を周波数変調原子間力顕微鏡により評価した。