[18p-E302-1~16] 12.2 評価・基礎物性

[18p-E302-7] 波長掃引型低エネルギー高感度光電子スペクトルの解釈（2）

〇石井 久夫^1,2,3、木全 俊輔²、井手 一郎²、丸山 泰一²、山口 雄生²、松崎 厚志²、清水 康平²、田中 有弥¹ (1.千葉大先進、2.千葉大融合理工、3.千葉大MCRC)

キーワード：光電子分光、光電子収量分光

我々の研究室では，波長掃引型低エネルギー光電子分光（hν-dependent low enregy photoemission spectroscopy:hν-HS-UPS)を行うことで，ギャップ準位や励起準位などの微弱な準位の状態密度の測定が可能であることを示してきたが，hνに依存した光電子放出強度の補正が問題であった。今回は，金の蒸着膜のhν-HS-UPSの測定について，光電子収量分光の結果と照らし合わせてスペクトル強度の補正法を議論する