[18p-E302-1~16] 12.2 評価・基礎物性

△ [18p-E302-8] 波長掃引型低エネルギー高感度光電子分光と深紫外吸収分光によるポリエチレンモデル化合物薄膜のギャップ内準位の観測

〇(M2)山口 雄生¹、清水 康平¹、佐野 大輔¹、松崎 厚志¹、田中 有弥^1,2、上野 那美³、森澤 勇介³、石井 久夫^1,2,4 (1.千葉大院融合理工、2.千葉大先進、3.近大理工、4.千葉大MCRC)

キーワード：紫外光電子分光、深紫外吸収分光、ギャップ準位

ポリエチレン(PE)モデル化合物は有機物の中で最も基本的な分子構造であるため、その電子構造、特にトラップ準位などのギャップ内準位を解明することは有機物の電気特性等を理解する上で重要である。しかし、バンドギャップが深紫外であることや高い絶縁性のためから吸収測定や光電子分光の測定が限られてきた。そこで、本研究では深紫外吸収分光と高感度光電子分光を組み併せて、PEモデル化合物のギャップ内準位を詳細に観測した。