The 80th JSAP Autumn Meeting 2019

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Oral presentation

2 Ionizing Radiation » 2.4 Accelerator Mass Spectrometry, Accelerator Beam Analysis

[18p-E312-1~7] 2.4 Accelerator Mass Spectrometry, Accelerator Beam Analysis

Wed. Sep 18, 2019 1:30 PM - 3:30 PM E312 (E312)

Hidetsugu Tsuchida(Kyoto University), Akihiro Matsubara(JAEA)

3:00 PM - 3:15 PM

[18p-E312-6] Influence of Molecular Axis of Fast Molecular Primary Ions on Secondary Ion Yields in SIMS Analysis of Biomaterials

Hidetsugu Tsuchida1, Murase Ryu1, Hama Yuuki1, Nakajima Kaoru1, Chiba Atsuya2, Majima Takuya1, Saito Manabu1 (1.Kyoto Univ., 2.QST Takasaki)

Keywords:ion beam analysis, biomaterial, secondary ion mass spectrometry

静電加速器からの高速分子イオンビームによる生体物質の二次イオン質量分析法において、二次イオン収量の増大に繋がる因子を特定することが重要である。本研究では、二次イオン収量に対する高速分子一次ビームの分子軸の依存性を調べた結果、二次イオン収量は、分子軸が入射方向に対して平行になるほど多くなることが分かった。