The 80th JSAP Autumn Meeting 2019

Presentation information

Poster presentation

Joint Session K » 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

[18p-PB5-1~36] 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

Wed. Sep 18, 2019 4:00 PM - 6:00 PM PB5 (PB)

4:00 PM - 6:00 PM

[18p-PB5-15] Analysis of α-Ga2O3 (0001) surface structure using first-principles calculations

Hayato Oyama1, Takahiro Kawamura1 (1.Mie Univ.)

Keywords:Ga2O3, surface, first-principles calculations

α型酸化ガリウム(α-Ga2O3)は, SiCとGaNよりも更に大きなバンドギャップを有する半導体であり,パワーデバイスに用いるとSiCとGaNを上回る高効率・低損失が期待できる.しかし,α-Ga2O3の結晶成長に関する実験は発展途上で,結晶成長のプロセスについて分かっていないことが多い.α-Ga2O3の結晶成長プロセス解明の一環として,本研究では第一原理計算を用いてa-Ga2O3(0001)面の表面構造解析を行い,GaとO原子の吸着について考察した.