[19a-C213-1~7] 2.2 Detection systems

[19a-C213-4] Development of a multi-channel and low noise analog ASIC for Si/CdTe imagers

〇Tenyo Kawamura^1,2, Tadashi Orita^1,2, Shin'ichiro Takeda^1,2, Shin Watanabe³, Hirokazu Ikeda³, Tadayuki Takahashi^1,2 (1.Tokyo Univ., 2.Kavli IPMU, 3.ISAS/JAXA)

Keywords:ASIC, semiconductor, cadmium telluride

我々は、様々なセンサーに対して最適な信号読み出しASICを効率的に製作できるよう、独自に回路設計したASICの開発を積み重ね、動作保証された回路ブロックの確立を進めてきた。本研究では新たに、テルル化カドミウム両面ストリップ型検出器(CdTe DSD)の読み出しに向けて、多チャンネル、低雑音ASICを設計した。本講演では、ASICの性能評価とCdTe DSDの開発状況について、雑音性能を軸に報告する。