2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

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[19a-C213-1~7] 2.2 検出器開発

2019年9月19日(木) 10:00 〜 11:45 C213 (C213)

前畑 京介(九大)

11:30 〜 11:45

[19a-C213-7] 後方散乱X線検査用検出器の高感度化に関する検討

松江 俊樹1、山崎 淳1、渡辺 賢一1、吉橋 幸子1、瓜谷 章1、豊川 弘之2、藤原 健2、萬代 新一3、伊佐 英範3 (1.名大工、2.産総研、3.BEAMX)

キーワード:後方散乱X線、検出器

社会インフラ設備の長期保守管理をより効率的に行うことができる非破壊検査手法の一つに後方散乱X線検査がある。この手法では被写体の片側にX線源と検出器を設置して検査が可能である。本研究ではコリメータ等の重量物を稼働させずに1次元プロファイルを取得できるファンビームX線方式を採用し、ファンビームX線に直行する平行平板コリメータで散乱位置を限定している。先行研究で製作された検出器の要素検討を行いシンチレータと発光取得体系の変更した新たな検出器を製作した。
製作した検出器と先行研究の信号対ノイズ比を比較したところ感度が5倍ほど向上した。