[19a-C310-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

[19a-C310-10] 時間分解THz-STMを用いた光励起キャリアダイナミクスの計測

〇(M1)五十嵐 一歩¹、吉田 昭二¹、嵐田 雄介¹、廣理 英基²、立崎 武弘³、吉岡 克将⁴、佐成 晏之²、武内 修¹、金光 義彦²、重川 秀実¹ (1.筑大数理、2.京大化研、3.東海大工、4.横国大)

キーワード：走査型トンネル顕微鏡、テラヘルツ

テラヘルツ波で走査型トンネル顕微鏡のバイアス電圧を瞬間的に変調するTHz-STMを用い、低温下（54K）の遷移金属ダイカルコゲナイドMoTe2における光励起後のキャリアダイナミクスの計測を行った。広い遅延時間範囲での測定結果により、光励起後のMoTe2の寿命の異なる2つのキャリアの緩和過程（18ps,606ps)が得られた。