[19p-C212-1~6] Advanced optical measurements in the field of organic electronics

[19p-C212-6] Near-field spectral imaging: high-sensitivity, high-speed and broadband for material analysis

〇Takayuki Umakoshi¹ (1.Osaka Univ)

Keywords:Near-field scanning optical microscopy, Plasmonics, High-speed atomic force microscopy

近接場光学顕微鏡は、金属探針の先端で物理的に光をナノ局在させることによって(近接場光)、超解像イメージングを実現する。いわゆる超解像蛍光顕微鏡と異なり蛍光分子に制約されないため、有機材料を含めた蛍光染色できない様々な材料の超解像分析にも威力を発揮する。本発表では、近接場光学顕微鏡の高感度化、高速化、広帯域化を実現した先端技術について紹介する。