[19p-E313-1~9] 15.5 IV族結晶，IV-IV族混晶

△ [19p-E313-2] XAFS測定を用いた低温下におけるSi基板上SiGe薄膜の局所構造評価

〇吉岡 和俊¹、横川 凌^1,2、高橋 祐樹¹、竹内 悠希¹、広沢 一郎³、渡辺 剛³、小椋 厚志¹ (1.明治大理工、2.学振特別研究員DC、3.JASRI)

キーワード：SiGe、XAFS